FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP"，這個功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)最直觀的視野移動。

• 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型^*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率

• 憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD^*2），可在低加速/低真空下觀察時實(shí)現(xiàn)最高的畫質(zhì)

• 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實(shí)現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力

• 全新的定位功能“SEM MAP"，支持觀察時的視野搜索和樣品定位

尺寸雖小，卻具備同類產(chǎn)品中最高的分辨率。

配備可優(yōu)化放射電流的功能，以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度，而獲得噪點(diǎn)小且清晰的圖像。

寬幅僅為45厘米，緊湊型設(shè)計，減小占用空間。機(jī)體僅支持AC100 V 3P電源插座。此外，機(jī)體和電源盒可以分離，從而大幅度提升諸如桌面設(shè)置等的布局靈活性。

FlexSEM 1000 II采用新型偏壓系統(tǒng)，可在低加速電壓下獲得高放射電流。從而，在低加速電壓下也能實(shí)現(xiàn)同類產(chǎn)品中最高的圖像清晰度（S/N）。

利用SEM上4分割背散射電子檢測器所獲得的信號，可計算4個方向的表面形狀，從而無需進(jìn)行樣品傾斜和視野對位，即可構(gòu)建三維模型。
Hitachi map 3D支持多個國家的語言，具備用于調(diào)節(jié)樣品位置的各種校正功能、以及可追溯測量過程的測量系統(tǒng)、符合ISO標(biāo)準(zhǔn)的表面粗糙度（面粗糙度、線粗糙度）的測定、此外還包括表面積、體積等其他測量功能以及報告輸出等功能。